| 一、仪器的主要用途和特点 |
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XPF-300透反射偏光显微镜是地质、矿产、冶金等部门和相关高等院校常用的专业实验仪器。用于不透明物体或半透明物体，可以同时采用透射光和反射光观察.
随着光学技术的不断进步，偏光显微镜的应用范围也越来越广阔，许多行业，如化工，半导体工业以及药品检验等等，都广泛地使用偏光显微镜。XPF-300透反射偏光显微镜就是非常适用的产品，可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件，是一组具有较完备功能和良好品质的新型产品.本仪器的具有可扩展性，可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。 |
| 二、仪器的主要技术指标 |
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名称 |
规格 |
总放大倍数： |
40X---630X |
无应力消色差物镜 |
4X/0.1 |
10X/0.25 |
25X/0.40 |
40X/0.65 弹簧 |
63X/0.85 弹簧 |
目镜 |
10X 十字目镜 |
10X 分划目镜 |
试片 |
石膏 1λ 试片 |
云母 1/4λ 试片 |
石英楔子试片 |
测微尺 |
0.01mm |
滤色片 |
蓝色 |
带座目镜网络尺 |
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移动尺 |
移动范围 30mm×40mm |
镜筒 |
三目观察 |
| 同轴照明系统 |
显微镜垂直照明系统，系统系数1倍，可适配与各型号的普通(160毫米机械筒长，斜筒式) 显微镜 。可作为反射光照明系统下观察不透明物体表面细微结构. |
| 反射照明系统 |
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| 三、系统的扩展性 |
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XPF-300C型偏光显微镜系统是将精密的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、优异的计算机成像技术结合在一起而开发研制成功的一项科技产品。可以在计算机上很方便地观察偏光图像，并对偏光图谱进行分析,处理,还可输出或打印偏光图片。 |
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